昌暉儀表在本文對(duì)數(shù)據(jù)域測量基本概念、數(shù)字信號(hào)特點(diǎn)、數(shù)據(jù)與測量研究內(nèi)容、數(shù)據(jù)域測量的特點(diǎn)和數(shù)據(jù)域測量技術(shù)做科普介紹介紹，這些數(shù)據(jù)域測量的基礎(chǔ)知識(shí)是大家以后深入學(xué)習(xí)的基礎(chǔ)。

數(shù)據(jù)域測量基本概念
數(shù)據(jù)域測量就是檢測輸入與輸出對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)流關(guān)系，分析系統(tǒng)功能是否正確，判斷有無故障及故障范圍。

隨著計(jì)算機(jī)與微電子技術(shù)快速發(fā)展，微處理器和大規(guī)模集成電路在數(shù)字邏輯電路中的應(yīng)用，數(shù)字電路可分為組合數(shù)字邏輯電路和時(shí)序數(shù)字邏輯電路。這些元器件和設(shè)備按照數(shù)字邏輯電路的特點(diǎn)，按照系統(tǒng)所要求的功能，按一定的邏輯關(guān)系連接組成數(shù)字系統(tǒng)的硬件，而實(shí)現(xiàn)各種算法的程序指令序列，則是數(shù)字系統(tǒng)的軟件。數(shù)字電路和微處理器、大規(guī)模集成電路在運(yùn)行過程中，需及時(shí)地對(duì)運(yùn)行狀態(tài)、發(fā)生故障的判斷、故障范圍進(jìn)行不斷檢測。

數(shù)據(jù)域測量研究內(nèi)容
如何檢測這些器件的正確性；把它們組裝成設(shè)備之后，又如何進(jìn)行測試；發(fā)生故障如何迅速確定故障點(diǎn)，如何排除這些故障，這些都是數(shù)據(jù)域測量要解決的問題。

數(shù)字信號(hào)的特點(diǎn)
關(guān)于數(shù)字信號(hào)的特點(diǎn)，昌暉儀表儀表網(wǎng)有一篇《數(shù)字信號(hào)的特點(diǎn),儀表人都應(yīng)清楚》的技術(shù)文章詳細(xì)介紹，在此一筆帶過。

數(shù)據(jù)域測量的特點(diǎn)
數(shù)據(jù)域測量面向的對(duì)象是數(shù)字邏輯電路，這類電路的特點(diǎn)是以二進(jìn)制數(shù)字的方式來表示信息。由于晶體管“導(dǎo)通”和“截止”，數(shù)據(jù)開關(guān)扳上置“1”扳下置“0”可以分別輸出高電平或低電平，表示不同的“1”和“0”數(shù)字。由多位0、1數(shù)字的不同組合表示具有一定意義的信息。在每一特定時(shí)刻，多位0.數(shù)字的組合稱為一個(gè)數(shù)據(jù)字，數(shù)據(jù)字隨時(shí)間的變化按一定的時(shí)序關(guān)系形成了數(shù)字系統(tǒng)的數(shù)據(jù)流。這說明，數(shù)字系統(tǒng)是以數(shù)據(jù)或字作為時(shí)間或時(shí)序的函數(shù)，而不是把電壓作為時(shí)間或頻率的函數(shù)。運(yùn)行正常的數(shù)字系統(tǒng)或設(shè)備，其數(shù)據(jù)流是正確的；若系統(tǒng)的數(shù)據(jù)流發(fā)生錯(cuò)誤，則說明該系統(tǒng)發(fā)生了故障。為此，檢測輸入與輸出對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)流關(guān)系，就可分析系統(tǒng)功能是否正確，判斷有無故障及故障范圍。這就是所謂數(shù)據(jù)域測試問題，它包括數(shù)字系統(tǒng)或設(shè)備的故障檢測、故障定位、故障診斷以及數(shù)據(jù)流的檢測和顯示。

數(shù)據(jù)域測量是研究數(shù)據(jù)處理過程中數(shù)據(jù)流的關(guān)系，僅當(dāng)發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)流不對(duì)時(shí)，才需要了解產(chǎn)生這個(gè)數(shù)據(jù)字的電壓情況，而數(shù)字電路輸入輸出引腳之多，內(nèi)部控制電路之復(fù)雜，發(fā)生錯(cuò)誤區(qū)域附近的信號(hào)節(jié)點(diǎn)數(shù)目之大，都使采用傳統(tǒng)的示波器分析變得很復(fù)雜且難以勝任。傳統(tǒng)的以頻域或時(shí)域概念為基礎(chǔ)的測試方法和儀器難以完滿地分析今天復(fù)雜的數(shù)字系統(tǒng)，故數(shù)據(jù)域測量工程需要一種新的測量儀器。這種新的測量儀器專門用來檢測、處理和分析數(shù)據(jù)流，這種儀器稱為數(shù)據(jù)域測量儀器。數(shù)據(jù)域測試設(shè)備目前主要有邏輯分析儀、特征分析和激勵(lì)儀器、微機(jī)及數(shù)字系統(tǒng)故障診斷儀、在線仿真器、數(shù)據(jù)圖形產(chǎn)生器、微型計(jì)算機(jī)開發(fā)系統(tǒng)、印制電路板測試系統(tǒng)等。

隨著數(shù)字電路越來越復(fù)雜化，如果在電路設(shè)計(jì)中不考慮測試問題，則會(huì)使測試費(fèi)用急劇增長，甚至采用當(dāng)前最先進(jìn)的測試系統(tǒng)也可能無法進(jìn)行測試，為此，近幾年迅速發(fā)展了“數(shù)字電路的可測性設(shè)計(jì)和內(nèi)在自測性設(shè)計(jì)技術(shù)”。前者使數(shù)字電路的測試變得可能和容易，后者使電路具有自測試能力，從而較徹底地解決了數(shù)字電路的測試問題。

數(shù)據(jù)域測試技術(shù)的最新發(fā)展之一是無接觸測試，即在測試器與被測板之間沒有接觸，省掉了各種測試夾具及連接器。目前已被采用的有自動(dòng)視覺測試(AVT)和熱圖像處理等技術(shù)。AVT技術(shù)利用攝像機(jī)采集被測試板的圖像信息，通過計(jì)算機(jī)處理來發(fā)現(xiàn)故障。熱圖像技術(shù)利用紅外線掃描，獲取并分析被測板的熱圖像信息，找出異常的冷點(diǎn)和熱點(diǎn)以確定故障。不少系統(tǒng)還引入人工智能和專家系統(tǒng)，不僅可進(jìn)行故障診斷，還可根據(jù)專家經(jīng)驗(yàn)和規(guī)則提出一些改進(jìn)意見和建議。